Metodo elettromagnetico ad induzione: il Profiler EMP 400
Per i rilievi elettromagnetici utilizziamo un elettro-magnetometro Profiler EMP-400 della GSSI (http://www.geophysical.com/). Questo tipo di strumento, dotato di una antenna di ricezione, misura il campo magnetico oscillante generato da correnti secondarie che circolano nel terreno, a loro volta indotte da un campo magnetico oscillante primario, avente origine in una antenna dello strumento stesso, detta di trasmissione. La spaziatura tra antenna di trasmissione e di ricezione è pari a 1.21 metri.
Il Profiler EMP-400, ultima evoluzione di una famiglia di strumenti ad induzione operanti nel dominio delle frequenze, è caratterizzato dalla capacità di misurare contemporaneamente più frequenze fino ad un massimo di 3 durante un singolo rilievo. La fascia di frequenze selezionabili, da scegliere in funzione della risposta del sito da indagare, varia nell’intervallo 1-16 kHz. La relazione che c’è tra l’ ampiezza del campo secondario rispetto al primario è legata alla suscettività magnetica del suolo (componente in fase) mentre lo sfasamento tra i due campi è legato, per questa fascia di frequenze, alla conducibilità elettrica del sottosuolo.
Fissato quindi un set di frequenze, lo strumento, attraverso la misura, permette il calcolo della conducibilità elettrica espressa in Ms/m e della suscettibilità magnetica espressa in unità ppm.
L’acquisizione delle misure avviene in superficie, camminando lungo profili per quanto possibile paralleli tra loro. Il posizionamento di ogni singola misura è garantito da una unità GPS (Global Positioning System) integrata nel Profiler EMP 400 stesso, in modo da associare un valore di coordinate spaziali ad ogni misura effettuata. Il sistema di riferimento utilizzato è l’ellissoide globale WGS84, cartografato mediante proiezione kilometrica UTM zona 33N. Considerando la risoluzione spaziale che caratterizza la tecnica elettromagnetica ad induzione, l’utilizzo di un GPS in modalità differenziale EGNOSS garantisce una adeguata precisione dell’ubicazione della misura sul campo.